
2024-09-03
SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ
YPI-MX-DC(セミオート)
SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
研究開発や洗浄確認に最適です。
2024-09-03
SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
研究開発や洗浄確認に最適です。
2024-09-03
SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
プロセスモニターや洗浄確認に最適です。
2024-09-03
SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
プロセスモニターや洗浄確認に最適です。