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SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ  YPI-MX-DC(セミオート)

2024-09-03

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ
YPI-MX-DC(セミオート)

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
研究開発や洗浄確認に最適です。

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ  YPI-MX-DC SMIF

2024-09-03

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ
YPI-MX-DC SMIF

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
プロセスモニターや洗浄確認に最適です。

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ  YPI-MX-DC

2024-09-03

SiC/GaNウエハ表面パーティクルスキャナ
YPI-MX-DC

SiCウエハ量産ライン用パーティクル検査装置です。
SiCウエハでの高感度測定に。
プロセスモニターや洗浄確認に最適です。

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